发明名称 半导体装置
摘要 半导体装置1包括基板3、安装在基板3上的半导体芯片4、连接基板3和半导体芯片4的凸块5和填充凸块5周围的底填料6。当凸块5是熔点为230℃或以上的高熔点焊料时,底填料6是弹性模量为30MPa~3000MPa的树脂材料。当凸块5是无铅焊料时,底填料6是弹性模量为150MPa~800MPa的树脂材料。在25℃~玻璃转化温度之间,装配层31的绝缘层311在基板面内方向的线性膨胀系数为35ppm/℃或以下。
申请公布号 CN101395708B 申请公布日期 2011.07.13
申请号 CN200780007229.6 申请日期 2007.04.20
申请人 住友电木株式会社 发明人 杉野光生;八月朔日猛;和田雅浩;新井政贵
分类号 H01L21/56(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/12(2006.01)I;H01L23/29(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I 主分类号 H01L21/56(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 吴小瑛
主权项 半导体装置,其包括:基板,安装在基板上的半导体元件,连接基板和半导体元件的凸块,和填充凸块周围的底填料,其中,凸块包括熔点为230℃或以上的高熔点焊料,底填料包括125℃时弹性模量30MPa~510MPa的树脂材料,基板具有含树脂绝缘层与导电互联层交替层压的装配层,每个导电互联层通过绝缘层中的通孔内形成的导电层连接,且在25℃至玻璃转化温度之间,装配层的绝缘层在基板面内方向的线性膨胀系数为35ppm/℃或以下,其中在25℃至玻璃转化温度之间,底填料与凸块之间的线性膨胀系数差为10ppm/℃或以下。
地址 日本东京都