发明名称 一种含底充胶的大面阵红外探测器结构优化方法
摘要 本发明涉及一种含底充胶的大面阵红外探测器结构优化方法,采用小面阵等效大面阵的方法,降低了器件结构分析对仿真平台的要求,提高了结构分析的效率与准确率,使设计的探测器结构稳定性更强、疲劳寿命更高。
申请公布号 CN102122309A 申请公布日期 2011.07.13
申请号 CN201010591889.7 申请日期 2010.12.16
申请人 河南科技大学 发明人 孟庆端;张立文;张晓玲;普杰信
分类号 G06F17/50(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人 陈浩
主权项 1.  一种含底充胶的大面阵红外探测器结构优化方法,其特征在于,步骤如下:根据大面阵红外焦平面探测器的阵列规模<img file="835925DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="52" he="18" />,确定一个较小的探测器阵列规模<img file="811971DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="42" he="16" />,这里<img file="414990DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="85" he="22" />(n=1,2,3…);根据相邻材料间热膨胀失配位移公式:<img file="871511DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="151" he="29" />,进而建立起等效于<img file="206677DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="52" he="18" />阵列规模红外焦平面探测器的有限元模型:将步骤a)所述<img file="997916DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="42" he="16" />阵列规模探测器结构中光敏元阵列与铟柱、底充胶的热膨胀系数之差增加<img file="889779DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="42" he="20" />倍,光敏元阵列芯片的热膨胀系数,这里<img file="450074DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="42" he="16" />阵列规模探测器结构中铟柱焊点距对称中心轴的距离为<img file="956141DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="52" he="18" />阵列规模的<img file="985408DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="45" he="22" />;根据器件结构的对称性,这里采用1/8结构进行建模;上式中:<img file="930231DEST_PATH_IMAGE007.GIF" wi="24" he="22" />为热膨胀失配位移,L为面阵探测器中铟柱焊点距对称中心轴的距离,<img file="282715DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="18" he="24" />和<img file="38312DEST_PATH_IMAGE009.GIF" wi="21" he="24" />分别为面阵探测器中相邻材料的热膨胀系数,相邻材料是指所述光敏元阵列与铟柱、底充胶,<img file="538564DEST_PATH_IMAGE010.GIF" wi="26" he="18" />为降温范围;对步骤b)中得到的<img file="772230DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="42" he="16" />阵列规模探测器有限元模型,设定相应的结构参数,包括铟柱的直径、高度和光敏元阵列芯片的厚度;设定材料参数和材料分析模型;进行有限元网络划分,这里采用自由网格划分;确定边界条件和初始状态;求解所述<img file="244800DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="42" he="16" />阵列规模探测器的结构应力,记录光敏元阵列芯片上的最大应力和应力分布;调整步骤c)中所述设定的结构参数,铟柱的直径、或铟柱的高度、或光敏元阵列芯片的厚度,重复步骤d)到f),得出所述<img file="154987DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="42" he="16" />阵列规模红外焦平面探测器的结构应力与结构参数之间的关系,确定最小应力值对应的结构参数,即得到<img file="893267DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="52" he="18" />阵列规模大面阵红外焦平面探测器的结构最优参数。
地址 471003 河南省洛阳市涧西区西苑路48号
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