发明名称 |
一种集成电路铜互连结构中铜的电化学机械抛光液 |
摘要 |
本发明公开一种集成电路铜互连中铜的电化学机械抛光液,抛光液中含有水、酸、钾盐、抑制剂、络合剂、表面活性剂、分散剂和pH调节剂等。其中酸是柠檬酸、乳酸中的一种或两种酸的混合物,质量百分比是1-10%;抑制剂是尿酸,其质量百分比是0.01-0.1%。本发明的抛光液中不含磨料粒子,可以在低压力(0.5psi)下进行抛光,抛光后铜的表明缺陷少,有可能取代目前的化学机械抛光技术对铜互连中铜进行抛光。本发明中使用尿酸作为抑制剂,柠檬酸和乳酸作为酸,可以减小对环境的污染。 |
申请公布号 |
CN102121127A |
申请公布日期 |
2011.07.13 |
申请号 |
CN201110000136.9 |
申请日期 |
2011.01.04 |
申请人 |
安徽工业大学 |
发明人 |
储向峰;董永平;张王兵;陈同云;孙文起 |
分类号 |
C25F3/22(2006.01)I;C09K3/14(2006.01)I |
主分类号 |
C25F3/22(2006.01)I |
代理机构 |
马鞍山市金桥专利代理有限公司 34111 |
代理人 |
周宗如 |
主权项 |
一种用于集成电路铜互连结构中铜的电化学机械抛光的抛光液,其特征在于所述抛光液的组成及其质量百分比如下:酸:1‑10%;钾盐:0.5‑1%;抑制剂:0.01‑0.1%;络合剂:0.1‑2%、表面活性剂:0.01‑0.1%:分散剂:0.01‑0.1%;pH调节剂KOH:1‑5%;其余为水。 |
地址 |
243002 安徽省马鞍山市湖东中路59号 |