发明名称 真空处理装置
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.07.11
申请号 TW094115932 申请日期 2005.05.17
申请人 芝浦机械电子装置股份有限公司 发明人 泷泽洋次;池田治朗
分类号 G11B7/26 主分类号 G11B7/26
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种真空处理装置,其特征在于具有:第1成膜处理部,其包含第1腔室,其可排气为真空状态,第1旋转搬送台,其配置于上述第1腔室内,形成被处理物之搬送路,以及至少一个第1成膜室,其沿以上述第1旋转搬送台之旋转轴为中心之圆周配置于上述第1腔室内,于藉由上述第1旋转搬送台搬送之上述被处理物上沉积膜;第2成膜处理部,其包含第2腔室,其与上述第1腔室共用真空空间,第2旋转搬送台,其配置于上述第2腔室内,并形成上述被处理物之搬送路,以及至少一个第2成膜室,其沿以上述第2旋转搬送台之旋转轴为中心之圆周而配置于上述第2腔室内,于藉由上述第2旋转搬送台搬送之上述被处理物上沉积膜;连结部,其以共用上述真空空间之方式连结上述第1成膜处理部与上述第2成膜处理部,并相互转移于该等第1与第2成膜处理部中经处理之被处理物;以及加载互锁机构,其设置于上述第1成膜处理部、上述第2成膜处理部及上述连结部之任意一者中,于上述腔室内外保持真空状态并将上述被处理物搬出或搬入。如请求项1之真空处理装置,其中上述第1成膜室与上述第2成膜室之数量不同。如请求项1或2之真空处理装置,其中相应于所需之成膜处理室数,连结上述两个成膜处理部而实行一系列处理,或于上述两个成膜处理部同时进行相同之处理而加以控制。如请求项1之真空处理装置,其中上述第1成膜处理部与上述第2成膜处理部配置有冷却室,其于各成膜室间冷却被处理物。如请求项1之真空处理装置,其中更具有运转控制部,其以上述加载互锁机构配置于上述第1成膜处理部,自上述加载互锁机构搬入至上述第1腔室之被处理物藉由上述第1旋转台而被搬送,于上述第1成膜室内成膜,并移送至上述连结部,藉由上述第2成膜处理部之第2腔室之上述第2旋转台而自上述连结部搬送,于上述第2成膜室内成膜,经成膜之被处理物经由上述连结部,搬送至上述第1旋转台,于上述第1成膜室内成膜,并自上述加载互锁机构取出之方式加以控制。如请求项1之真空处理装置,其中上述加载互锁机构设置于上述连结部,上述连结部具有上述被处理物之转移机构,上述转移机构兼作上述加载互锁机构。如请求项1之真空处理装置,其中上述连结部于上述第1成膜处理部与上述第2成膜处理部更具有转移被处理物之转移部位,且至少一方之转移部位兼作冷却室。如请求项1之真空处理装置,其中于上述第1成膜处理部及上述第2成膜处理部之至少一方,连结有第3成膜处理部;上述第3成膜处理部包含:第3腔室,其可排气为真空状态,第3旋转搬送台,其配置于上述第3腔室内,形成被处理物之搬送路,以及第3成膜室,其沿以上述旋转搬送台之旋转轴为中心之圆周而配置于上述第3腔室内,于藉由上述旋转搬送台而搬送之上述被处理物上沉积膜。
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