| 主权项 |
一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；该零件搬运手段系具有用以保持该被测试电子元件的保持头；其中该第1收容件系用以收容测试前之该被测试电子元件的订制托盘；该第1位置系形成于该被测试电子元件之装置基座的窗部；该电子元件处理装置包括：昇降工作台，将该订制托盘移动至该窗部；储存手段，系储存已装载测试前之该被测试电子元件的该订制托盘；托盘移动手段，系令该储存手段所储存之该订制托盘移至该昇降工作台；及调整手段，其可调整位于该窗部之该订制托盘的高度；其中该保持头将被收容于该第1收容件之该被测试电子元件从非接触之状态拉近并保持该被测试电子元件。如申请专利范围第1项之电子元件处理装置，其中该储存手段具有：昇降手段，系可上下动地支持该订制托盘，及缓冲手段，系设置于该订制托盘和该昇降手段之间。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；该零件搬运手段系具有用以保持该被测试电子元件的保持头；其中该第2收容件系校正器，其收容测试前之该被测试电子元件，并修正该被测试电子元件之间的彼此之位置关系；该电子元件处理装置包括第1限制手段，其限制该保持头对该校正器的接近；其中该校正器系具有用以收容该被测试电子元件之凹部；该第1限制手段系轴，其设置于该凹部的周围，并和该零件搬运手段之该保持头抵接；其中该保持头将被收容于该第1收容件之该被测试电子元件从非接触之状态拉近并保持该被测试电子元件。如申请专利范围第3项之电子元件处理装置，其中该轴系因应于该被测试电子元件的种类更换，可更换成长度相异之其他的轴。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；该零件搬运手段系具有用以保持该被测试电子元件的保持头；其中该第2收容件系用以收容测试前之该被测试电子元件的测试用托盘；该电子元件处理装置包括第2限制手段，其限制该保持头对该测试用托盘的接近；其中该第2限制手段系止动器，其设置于该零件搬运手段之该保持头，并和该测试用托盘抵接；该止动器系因应于该被测试电子元件的种类更换，可更换成长度相异之其他的止动器；其中该保持头将被收容于该第1收容件之该被测试电子元件从非接触之状态拉近并保持该被测试电子元件。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；该零件搬运手段系具有用以保持该被测试电子元件的保持头；其中该第1收容件系用以收容测试完了之该被测试电子元件的测试用托盘；该电子元件处理装置包括第3限制手段，其限制该保持头对该测试用托盘的接近；其中该第3限制手段系抵接部，其设置于该保持头，并和该测试用托盘之上面抵接；其中该保持头将被收容于该第1收容件之该被测试电子元件从非接触之状态拉近并保持该被测试电子元件。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；该零件搬运手段系具有用以保持该被测试电子元件的保持头；其中该第1收容件系用以收容测试完了之该被测试电子元件的测试用托盘；该第2收容件系校正器，其收容测试完了之该被测试电子元件，并修正该被测试电子元件之间的彼此之位置关系；其中该电子元件处理装置包括第4限制手段，其限制该保持头对该校正器的接近其中该校正器系具有用以收容该被测试电子元件之凹部；该第4限制手段系轴，其设置于该凹部的周围，并和该零件搬运手段之该保持头抵接；该轴系因应于该被测试电子元件的种类更换，可更换成长度相异之其他的轴；其中该保持头将被收容于该第1收容件之该被测试电子元件从非接触之状态拉近并保持该被测试电子元件。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；其中该零件搬运手段包括：复数个保持头，保持该被测试电子元件；及间距变换机构，系将该保持头彼此间的间距进行变换，该零件搬运手段在将该保持头彼此间的间距，设为系在该第1收容件之收容部彼此间的第1间距之整数倍且最接近在该第2收容件之收容部彼此间的第2间距之间距的状态，保持被收容于该第1收容件之该被测试电子元件，并在利用该间距变换机构将该保持头彼此间的间距变换成实质上和该第2间距相同后，将该被测试电子元件移至该第2收容件。如申请专利范围第8项之电子元件处理装置，其中该第1收容件系用以收容测试前之该被测试电子元件的订制托盘；该第2收容件系校正器，其收容测试前之该被测试电子元件，并修正该被测试电子元件之间的彼此之位置关系。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；其中该零件搬运手段包括：复数个保持头，保持该被测试电子元件；及间距变换机构，系将该保持头彼此间的间距进行变换，该零件搬运手段在将该保持头彼此间的间距，设为系在该第1收容件之收容部彼此间的第1间距之状态，保持被收容于该第1收容件之该被测试电子元件，并在利用该间距变换机构将该保持头彼此间的间距变换成系在该第2收容件之收容部彼此间的第2间距之整数倍且最接近在该第1收容件之收容部彼此间的第1间距之间距后，将该被测试电子元件移至该第2收容件。如申请专利范围第10项之电子元件处理装置，其中该第1收容件系用以收容测试完了之该被测试电子元件的测试用托盘；该第2收容件是用以收容测试完了之该被测试电子元件的订制托盘，或是收容测试完了之该被测试电子元件，并修正该被测试电子元件之间的彼此之位置关系的校正器。一种电子元件测试装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件：其中该第2收容件系用以收容测试前之被测试电子元件的测试用托盘；该测试用托盘包括：收容部，系可收容该被测试电子元件；及夹紧机构，系固定/放开该收容部内的该被测试电子元件；该零件搬运手段具有：保持头，保持该被测试电子元件；及用以操作该夹紧机构之固定/放开的夹紧操作手段；其中在将该被测试电子元件收容于该第2收容件时，该保持头将该被测试电子元件放开于该收容部内，并藉由该夹紧操作手段之操作而该夹紧机构将该被测试电子元件固定于该收容部后，该保持头脱离该收容部。一种电子元件处理装置，处理被测试电子元件，其特征在于：包括零件搬运手段，其将该被测试电子元件从位于第1位置之第1收容件移至位于第2位置的第2收容件；其中该第1收容件系已收容测试完了之该被测试电子元件的测试用托盘；该测试用托盘包括：收容部，系可收容该被测试电子元件；及夹紧机构，系固定/放开该收容部内的该被测试电子元件；该零件搬运手段包括：复数个保持头，保持该被测试电子元件；及夹紧操作手段，系用以操作该夹紧机构之固定/放开；在从该第1收容件保持该被测试电子元件时，该复数保持头各自接近该收容部，该复数保持头之中的至少一个保持该被测试电子元件并脱离该收容部，藉由该夹紧操作手段之操作而该夹紧机构固定该收容部内所收容的该被测试电子元件后，剩下之该保持头脱离该收容部。如申请专利范围第1至13项中任一项所述之电子元件处理装置，其中该保持头具有吸附并保持该被测试电子元件之吸附手段；在该保持头保持被收容于该第1收容件之该被测试电子元件时，该吸附手段吸引位于非接触之状态的该被测试电子元件并拉近。如申请专利范围第14项之电子元件处理装置，其中该保持头包括吸附喷嘴，其具有：平坦的前端面，系和该被测试电子元件之上面密接；及吸附口，系在该前端部开口。 |
