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一种主机板之串列高阶硬碟架构(SATA)介面功能测试装置，用于测试主机板之串列高阶硬碟架构(SATA)介面功能，其包括：一快闪记忆体晶片，其具有一定之存储容量；一侦测晶片，其与该快闪记忆体晶片相连接，将快闪记忆体信号转换为IDE信号；一信号转换晶片，其与该侦测晶片相连接，将IDE信号转换为SATA信号，当该主机板之SATA介面发出一测试信号至该SATA介面功能测试装置，并侦测到该快闪记忆体晶片具有一存储容量后，该快闪记忆体晶片返回一快闪记忆体信号至该侦测晶片，该侦测晶片将该快闪记忆体信号转换为一IDE信号后传送至该信号转换晶片，该信号转换晶片将该IDE信号转换为SATA信号后传送回主机板之SATA介面。如申请专利范围第1项所述之主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试装置，其中该主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试装置还包括一SATA介面连接器。如申请专利范围第2项所述之主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试装置，其中该信号转换晶片发出之SATA信号经由该SATA介面连接器传送至所述主机板之SATA介面。一种主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试方法，其包括以下步骤：提供一主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试装置，该装置包括一快闪记忆体晶片，一侦测晶片及一信号转换晶片；通过该主机板之SATA介面发出一测试信号至该主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试装置；藉由该测试信号侦测到该快闪记忆体晶片具有一存储容量后，从该快闪记忆体晶片返回一快闪记忆体信号至该侦测晶片；利用该侦测晶片将该快闪记忆体信号转换为一IDE信号后传送至该信号转换晶片；通过该信号转换晶片将该IDE信号转换为SATA信号后传送回该主机板之SATA介面。如申请专利范围第4项所述之主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试方法，其中该主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试装置还包括一SATA介面连接器。如申请专利范围第5项所述之主机板之串列高阶硬碟架构介面功能测试方法，其中该信号转换晶片发出之SATA信号经由该SATA介面连接器传送至所述主机板之SATA介面。 |
