发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.07.11
申请号 TW093110453 申请日期 2004.04.15
申请人 瑞萨电子股份有限公司 发明人 伊藤富士夫;铃木博通
分类号 H01L21/60 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种半导体装置,其特征为包含:半导体晶片,其在其主面具有:积体电路与数个电极;数条引线,其配置于前述半导体晶片之周围;数条配线,其分别电性连接前述半导体晶片上之数个电极与前述数条引线;及树脂密封体,其密封前述半导体晶片、前述数条引线之各个的一部分及前述数条配线;前述数条引线具有:数条第一引线,其分别含有第一端子部;及数条第二引线,其于前述数条第一引线之中,配置于相邻的前述第一引线之间,且分别含有第二端子部;前述数条第一引线之各个的一端部位于半导体晶片之外侧;前述数条第二引线之各个的一端部固定于前述半导体晶片之背面;前述数个第一端子部之各个沿着前述树脂密封体之侧面配置;前述数个第二端子部之各个配置于比前述数个第一端子部更内侧。如申请专利范围第1项之半导体装置,其中前述数条引线之各个具有:自内侧起之第一部份;第二部份,其自前述第一部份向前述树脂密封体之背面弯曲;及第三部份,其自前述第二部份向前述树脂密封体之侧面延伸。如申请专利范围第2项之半导体装置,其中前述半导体晶片固定于前述第一部分;前述数个第一端子部及前述数个第二端子部形成于前述第三部份。如申请专利范围第1项之半导体装置,其中前述数条第二引线经由接着剂固定于前述半导体晶片。
地址 日本