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一种多触摸点之真座标侦测装置，包括用于侦测所述多触摸点之原始座标之电极以及连接于所述电极之扫描电路，其改良在于：所述扫描电路包括用于对所述电极全扫描以得到所述多触摸点之原始座标之全扫描电路，以及用于对所述电极分区扫描以判断所述原始座标中所述多触摸点之真座标之分区扫描电路。如申请专利范围第1项所述之侦测装置，其中所述电极包括分布于第一方向之第一电极及分布于第二方向之第二电极。如申请专利范围第2项所述之侦测装置，其中所述第一电极在所述第一方向上分为第一甲电极及第一乙电极；所述第二电极在所述第二方向上分为第二甲电极及第二乙电极。如申请专利范围第3项所述之侦测装置，其中所述第一甲电极及所述第一乙电极之间相互隔开，所述第二甲电极及所述第二乙电极之间相互隔开。如申请专利范围第3项所述之侦测装置，其中所述第一甲电极、所述第一乙电极与所述第二甲电极及所述第二乙电极相互交错形成复数电极交叉处以及四电极区域。如申请专利范围第3项所述之侦测装置，其中所述第一甲电极与所述第一乙电极相互对称，所述第二甲电极与所述第二乙电极相互对称。如申请专利范围第5项所述之侦测装置，其中所述四电极区域相互对称。如申请专利范围第3项所述之侦测装置，其中所述第一甲电极与所述第一乙电极非对称，所述第二甲电极与所述第二乙电极非对称。如申请专利范围第5项所述之侦测装置，其中所述四电极区域非对称。如申请专利范围第3项所述之侦测装置，其中所述第一甲电极、所述第一乙电极、所述第二甲电极及所述第二乙电极均为条状。如申请专利范围第3项所述之侦测装置，其中所述侦测装置还包括处理器，所述第一甲电极及所述第一乙电极分别连接至所述处理器，所述第二甲电极及所述第二乙电极分别连接至所述处理器。如申请专利范围第11项所述之侦测装置，其中所述扫描电路还包括分别连接所述第一甲电极、所述第一乙电极、所述第二甲电极及所述第二乙电极至所述处理器之复数开关。如申请专利范围第2项所述之侦测装置，其中所述第一电极与所述第二电极之间相互绝缘。如申请专利范围第13项所述之侦测装置，其中所述第一电极与所述第二电极之间设置绝缘层。如申请专利范围第14项所述之侦测装置，其中所述绝缘层包括平面连续结构。如申请专利范围第14项所述之侦测装置，其中所述绝缘层包括复数绝缘片，所述绝缘片分别设置于所述第一电极与所述第二电极之所述电极交叉处。如申请专利范围第2项所述之侦测装置，其中所述第一方向及所述第二方向异向。如申请专利范围第2项所述之侦测装置，其中所述第一电极及所述第二电极为透明导电材料。如申请专利范围第2项所述之侦测装置，其中所述第一电极及所述第二电极为金属。 |
