发明名称 | 用于NVM测试中不同品种参数之间坐标的对应方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种用于NVM测试中不同品种参数之间坐标的对应方法,包括如下步骤:(1)在某一品种参数下测试NVM,在一固定的存储区域写入当前die的坐标(X,Y);(2)在新的品种参数下测试已写入坐标的区域,先读出已写入的die的坐标(X,Y),再记录新的品种参数下的坐标(X’,Y’);(3)建立两个品种参数之间坐标的对应关系,得到以下两个公式:X’=aX+bY+M;Y’=cX+dY+N;其中a,b,c,d,M,N是公式中的未知数,通过不同的die计算出未知数并将其代入上述公式中,即得两个品种参数下的坐标对应关系。该方法可确保在不同品种参数下坐标的一致,实现不同测试环境下测试结果的准确和高效。 | ||
申请公布号 | CN102116834A | 申请公布日期 | 2011.07.06 |
申请号 | CN201010027218.8 | 申请日期 | 2010.01.05 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 乔静;曾志敏;桑浚之 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 王函 |
主权项 | 一种用于NVM测试中不同品种参数之间坐标的对应方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)在某一品种参数下测试NVM,在某一固定的存储区域写入当前die的坐标(X,Y);(2)在新的品种参数下测试步骤(1)中已写入坐标的区域时,先读出步骤(1)中已写入的die的坐标(X,Y),然后再记录下新的品种参数下的坐标(X’,Y’);(3)建立两个品种参数之间坐标的对应关系,得到以下的两个公式:X’=aX+bY+M;Y’=cX+dY+N;其中a,b,c,d,M,N是公式中的未知数,通过不同的die来计算出未知数a,b,c,d,M,N,并将其值代入到上述公式中,即得到两个品种参数下的坐标对应关系。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |