一种IC检测装置

摘要

本发明涉及一种IC检测装置，其包括第一置料装置，以容纳至少一盛装待测IC的料盘，一移料装置，是将第一置料装置处的待测IC分别取放在第一、二载送装置上，第一、二载送装置再将待测IC移载到测试装置处，所述的测试装置是在第一、二载送装置的后方各设有数组测试器与取放机构，各取放机构是将测试器中的完测IC取放在第一、二载送装置上，并将第一、二载送装置上的待测IC取放在测试器中以供检测，而第一、二载送装置则将完测IC载出，供移料装置将完测IC取出，并摆置下一待测IC，而移料装置则将完测IC取放在第二置料装置处收纳，达到有效缩减作业时间而提高生产率与节省成本的实用效益。

主权项

一种IC检测装置，其特征在于：其包括：第一置料装置：是用以容纳至少一盛装待测IC的料盘；第二置料装置：是用以容纳至少一盛装完测IC的料盘；测试装置：所述的测试装置设有数组用来测试IC的测试器与用来取、放待测/完测IC的取放机构；至少一载送装置：是用来在测试装置的各测试器间载送待测/完测IC；移料装置：是用来在第一、二置料装置与载送装置之间移载待测/完测IC；所述的测试装置的取放机构驱动取放器作第二方向位移，而在所述测试器与所述载送装置之间取、放待测/完测IC。