发明名称 埋入型多芯片半导体封装结构及其制造方法
摘要 本发明关于一种埋入型多芯片半导体封装结构及其制造方法,本发明的埋入型多芯片半导体封装结构包括:一第一芯片、至少一第二芯片、一第一线路层及一第二线路层。该第一芯片具有一第一表面、一第二表面及至少一凹槽,该至少一凹槽设置于该第二表面。至少一第二芯片具有一主动表面及数个第二电性连接垫,该至少一第二芯片设置于该至少一凹槽内。因本发明的该至少一第二芯片设置于该第一芯片的该至少一凹槽内,故不会增加本发明埋入型多芯片半导体封装结构的高度及面积,可有利于产品的微小化。
申请公布号 CN102117799A 申请公布日期 2011.07.06
申请号 CN201010576052.5 申请日期 2010.11.25
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 府玠辰;欧英德
分类号 H01L25/00(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I 主分类号 H01L25/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆勍
主权项 一种埋入型多芯片半导体封装结构,包括:一第一芯片,具有一第一表面、一第二表面、至少一凹槽及数个第一电性连接垫,该第二表面相对于该第一表面,该至少一凹槽设置于该第二表面,这些第一电性连接垫设置于该第一表面;至少一第二芯片,具有一主动表面及数个第二电性连接垫,这些第二电性连接垫设置于该主动表面,该至少一第二芯片设置于该至少一凹槽内,显露该主动表面及这些第二电性连接垫;一第一线路层,用以电性连接这些第一电性连接垫;及一第二线路层,用以电性连接这些第二电性连接垫。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号