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发明名称 Integrated circuit test simulator
摘要
申请公布号 EP1775595(B1) 申请公布日期 2011.07.06
申请号 EP20060122129 申请日期 2006.10.11
申请人 PROTON WORLD INTERNATIONAL N.V. 发明人 VAN ASSCHE, GILLES;MODAVE, JEAN-LOUIS
分类号 G01R31/3183 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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