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一种用来开发一般用途C/C++结构的测试程式的方法，该测试程式是用来测试自一半导体测试系统中的一半导体积体电路(IC)，该方法包含：为了开发一用来测试在该半导体测试系统上的IC的测试程式而以一般用途C/C++结构来描述测试系统资源，测试系统组态，及模组组态；为了开发一用来测试在该半导体测试系统上的IC的测试程式而以一般用途C/C++结构来描述一测试程序；为了开发一用来测试在该半导体测试系统上的IC的测试程式而以一般用途C/C++结构来描述一测试计画；为了开发一用来测试在该半导体测试系统上的IC的测试程式而以一般用途C/C++结构来描述测试条件；为了开发一用来测试在该半导体测试系统上的IC的测试程式而以一般用途C/C++结构来描述测试模式；及为了开发一用来测试在该半导体测试系统上的IC的测试程式而以一般用途C/C++结构来描述测试模式的计时(timing)。如申请专利范围第1项所述之方法，其中描述测试系统资源包含：具体叙明(specify)一资源种类，其中该资源种类与施用一测试至该IC的至少一测试模组相关连；具体叙明一与该资源种类相关连的参数种类；及具体叙明该参数种类的一个参数。如申请专利范围第1项所述之方法，其中描述测试系统组态包含：具体叙明一测试地点控制器来控制至少一测试模组，每一测试模组系用来施用一测试至该IC上；具体叙明一模组连接致能器(enabler)的输入埠；其中该测试系统将测试地点控制器耦合至该模组连接致能器的输入埠，且该模组连接致能器将测试地点控制器耦合至该至少一测试模组。如申请专利范围第3项所述之方法，其中该模组连接致能器为一开关矩阵。如申请专利范围第1项所述之方法，其中描述模组组态包含：具体叙明一模组识别符来确认一模组种类；具体叙明可执行的码来控制被该模组识别符所确认的模组种类的一测试模组，该测试模组是用来施用一测试于该IC上；及具体叙明一与该测试模组相关连的资源种类。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该方法进一步包含具体叙明插槽识别符用来确认一模组连接致能器的输出埠，其中该测试系统将测试模组耦合至该模组连接致能器的输出埠，且该模组连接致能器将测试模组耦合至一相应的测试地点控制器。如申请专利范围第6项所述之方法，其中该模组连接致能器为一开关矩阵。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该可执行的码为一动态连结库(DLL)。如申请专利范围第5项所述之方法，其更包含具体叙明一供应商识别符，用确认该测试模组的供应商。如申请专利范围第5项所述之方法，其更包含具体叙明一与该资源种类相关之可用的资源单元的最大数目的识别符。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，且该资源种类为数位测试器接脚及资源单元为测试器通道。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，且该资源种类为类比测试器接脚及资源单元为测试器通道。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，且该资源种类为RF测试器接脚及资源单元为测试器通道。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，且该资源种类为电源供应接脚及资源单元为测试器通道。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，且该资源种类为数位化器接脚及资源单元为测试器通道。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，且该资源种类为任意波形产生接脚及资源单元为测试器通道。如申请专利范围第5项所述之方法，其中该资源种类与一资源单元相关连，该方法进一步包含具体叙明一与哪些资源单元被失去作相关的标示符。如申请专利范围第17项所述之方法，其中被标示为失去作用的资源单元代表该测试模组之有缺陷的资源单元。如申请专利范围第1项所述之方法，其中描述测试条件包含：具体叙明至少一测试条件组。如申请专利范围第19项所述之方法，其中描述测试条件进一步包含：具体叙明至少一规格组，其包含至少一变数；及具体叙明一选择器，用来选取一将被结合到一变数上的表述式(expression)。如申请专利范围第20项所述之方法，其中该测试条件组与该至少一规则组的一选择器相关连界定了一测试条件。如申请专利范围第21项所述之方法，其中该测试条件为一物件。如申请专利范围第1项所述之方法，其中描述一测试程序包含：具体叙明执行一流程或测试的结果；具体叙明根据此结果的一个动作；及具体叙明根据此结果转移至另一流程或测试。 |
