双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法

摘要

一种双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法，测试结构包括：第一数据线测试线，通过薄膜晶体管与第一组数据线连接；第二数据线测试线，通过薄膜晶体管与第二组数据线连接；第三数据线测试线，通过薄膜晶体管与第三组数据线连接；栅极线测试线，通过薄膜晶体管与栅极线连接。根据双栅极显示装置的电路连接结构，将数据线分成三组，每一组数据线分别通过薄膜晶体管与不同的数据线测试线连接，通过控制相应的数据线测试线来控制数据线的导通，可以分别实现R画面、G画面和B画面，在判断数据线断路时可以准确知道同一像素单元内的哪条数据线断路以及短路。

主权项

一种双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，包括：第一数据线测试线，通过薄膜晶体管与第一组数据线(S1、S4、……S3n‑2)连接；第二数据线测试线，通过薄膜晶体管与第二组数据线(S2、S5、……S3n‑1)连接；第三数据线测试线，通过薄膜晶体管与第三组数据线(S3、S6、……S3n)连接；栅极线测试线，通过薄膜晶体管与栅极线连接。