发明名称 |
一种新型分子筛组合物EMM-12、其制备方法和使用方法 |
摘要 |
本发明涉及EMM-12分子筛,呈其合成后原样的形式和煅烧过的形式的该分子筛具有这样的X-射线衍射图,其包括具有在14.17到12.57埃范围内的d-间距最大值的峰,具有在12.1到12.56埃范围内的d-间距最大值的峰,和在约8.85到11.05埃之间的非分立散射,或者在具有在10.14到12.0埃范围内的d-间距最大值的峰和具有在8.66到10.13埃范围内的d-间距最大值的峰之间显示出谷,该谷在最低点的用背景校正的测定强度不小于在连接在10.14到12.0埃范围内的最大值和在8.66到10.13埃范围内的最大值的线上在相同XRD d-间距点的50%。 |
申请公布号 |
CN102112397A |
申请公布日期 |
2011.06.29 |
申请号 |
CN200980129452.7 |
申请日期 |
2009.07.15 |
申请人 |
埃克森美孚化学专利公司 |
发明人 |
W·J·罗瑟;D·L·多赛特;G·J·肯尼迪;T·约克;T·E·赫尔登 |
分类号 |
C01B39/46(2006.01)I;C01B39/48(2006.01)I;B01J29/06(2006.01)I |
主分类号 |
C01B39/46(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
宁家成 |
主权项 |
一种分子筛,呈其合成后原样的形式和煅烧过的形式的该分子筛具有这样的X‑射线衍射图,其包括具有在14.17到12.57埃范围内的d‑间距最大值的峰,具有在12.1到12.56埃范围内的d‑间距最大值的峰,和在约8.85到11.05埃之间的非分立散射,或者在具有在10.14到12.0埃范围内的d‑间距最大值的峰和具有在8.66到10.13埃范围内的d‑间距最大值的峰之间显示出谷,该谷在最低点的用背景校正的测定强度不小于在连接在10.14到12.0埃范围内的最大值和在8.66到10.13埃范围内的最大值的线上在相同XRD d‑间距点的50%。 |
地址 |
美国得克萨斯 |