发明名称 |
利用光中子透射对物体成像的方法及探测器阵列 |
摘要 |
本发明公开了一种利用光中子透射对物体成像的方法,包括步骤:使用中子准直器准直穿过物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定光中子射线的位置信息;使用探测器模块探测被准直的光中子射线束,其中,探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的至少一个热中子探测器,中子慢化体将光中子转化为热中子,热中子探测器测量该热中子以获得光中子射线束穿过物体时的衰减信息;综合所述位置信息和衰减信息以形成所述物体相应部分的图像。该方法利用中子准直器的位置决定光中子射线的位置信息,克服了由于光中子的慢化致使位置信息丧失从而导致无法成像的问题。该方法还通过设置探测器模块阵列来对物体进行成像。 |
申请公布号 |
CN102109473A |
申请公布日期 |
2011.06.29 |
申请号 |
CN200910244358.8 |
申请日期 |
2009.12.29 |
申请人 |
同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
发明人 |
李元景;杨祎罡;李铁柱;张勤俭;吴彬;王虹 |
分类号 |
G01N23/05(2006.01)I;G01N23/09(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/05(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
范晓斌;杨松龄 |
主权项 |
一种利用光中子透射对物体成像的方法,其使用光中子射线透射所述物体,其特征在于,包括以下步骤:使用中子准直器准直穿过所述物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定所述光中子射线的位置信息;使用探测器模块探测被准直的光中子射线束,其中,所述探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的至少一个热中子探测器,所述中子慢化体将所述光中子转化为热中子,所述热中子探测器测量该热中子以获得光中子射线束穿过所述物体时的衰减信息;和综合所述位置信息和衰减信息以形成所述物体相应部分的图像。 |
地址 |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |