| 发明名称 | 基于相移干涉测量法的光纤分析装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一基于相移干涉测量法的光纤分析装置。本发明公开用于检测试样溶液中分析物(46)的存在或数量或结合速率的装置和方法。所述装置包括具有相隔大于50nm的距离“d”的第一(42)与第二(40)反射表面的光学组件(26)，其中所述第一表面由一分析物结合分子层(44)形成；和用于将一光束射到所述第一和第二反射表面上的光源(22)。当将所述组件置于分析物溶液中时，所述装置中的检测器(28)运行，以通过检测从所述第一和第二表面所反射的光波的相位移来检测因分析物至所述分析物结合分子的结合而引起的所述第一反射层的厚度变化。 | ||
| 申请公布号 | CN101639447B | 申请公布日期 | 2011.06.29 |
| 申请号 | CN200910151571.4 | 申请日期 | 2004.11.05 |
| 申请人 | 佛特比奥公司 | 发明人 | 谭宏;谭语山;陈段君;克丽斯塔·利娅·威特 |
| 分类号 | G01N21/77(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/77(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 孟锐 |
| 主权项 | 一种光纤分析组件，其包括适于附装至光纤的一端来接收来自所述光纤的光束的光学元件，所述光学元件包含透明材料、第一反射表面以及由所述透明材料与所述第一反射表面隔开的第二反射表面，所述第一和第二反射表面相隔至少50nm，其中所述第一反射表面包含一分析物结合分子层，且自所述第一和第二反射表面反射进入所述光纤的光之间的干涉随试样中的分析物与所述分析物结合分子的结合而改变，并且其中所述第二反射表面包含一具有比所述透明材料的反射率更大的反射率的材料层。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||