发明名称 检查装置以及检查方法
摘要 本发明的目的在于提供一种检查装置以及检查方法,该检查装置以及检查方法能够高精确度地检测通过含有导电性粒子的粘合材料而被安装在面板的元件的位置偏离量。本发明的检查装置检测通过含有导电性粒子的粘合材料而被安装在面板表面的元件的位置相对于规定的安装位置的偏离量,该检查装置包括:可视摄像机,拍摄被形成在面板上的面板识别标记以及被形成在元件上的元件识别标记;获得部(448),从作为可视摄像机的拍摄结果的图像中,获得面板识别标记的特征点以及元件识别标记的特征点的位置;以及偏离量算出部(446),算出偏离量,该偏离量是元件识别标记的特征点的位置相对于将作为可视摄像机的拍摄结果的图像中的面板识别标记的特征点的位置作为基准飞规定的位置的偏离量。
申请公布号 CN101809403B 申请公布日期 2011.06.29
申请号 CN200880108764.5 申请日期 2008.09.19
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 龟田明;片山敦;浜田隆二
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G06T1/00(2006.01)I;H05K13/08(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 黄剑锋
主权项 一种检查装置,检测通过含有导电性粒子的粘合材料而被安装在面板表面的元件的位置相对于规定的安装位置的偏离量,其特征在于,该检查装置包括:摄像机,拍摄被形成在面板上的面板识别标记以及被形成在元件上的元件识别标记;获得单元,根据作为所述摄像机的拍摄结果的图像,获得所述面板识别标记的特征点以及所述元件识别标记的特征点的位置;算出单元,算出偏离量,该偏离量是将所述图像中的所述面板识别标记以及所述元件识别标记的某一方的标记的特征点的位置作为基准的规定的位置相对于另一方的标记的特征点的位置的偏离量;判断单元,判断是否能够识别所述图像中的所述面板识别标记以及所述元件识别标记的特征点;以及校正单元,在由所述判断单元判断为不能识别所述特征点的情况下,对所述图像进行校正;所述获得单元,根据由所述判断单元判断为能够识别所述特征点的所述图像,或者根据由所述校正单元执行了校正的所述图像,来获得所述特征点的位置;所述校正单元,在由所述判断单元判断为不能识别所述特征点的情况下,从所述图像中去除所述导电性粒子,并对所述图像中被去除导电性粒子的部分进行线性插值或者曲线插值。
地址 日本大阪府