发明名称 | 一种用于在工件上形成结构材料层的方法 | ||
摘要 | 一种步进器在形成集成电路的过程中与沉积材料层的硬件组合,因此执行沉积、构图和清洗,而无需将晶片暴露于工具之间的传送,并且将三个工具的功能组合在一个复合工具中。通过施加穿过步进器的掩膜的UV光来去除图案限定材料,从而消除现有技术方法的烘焙和显影步骤。类似地,UV的整片曝光消除现有技术方法的清洗步骤。 | ||
申请公布号 | CN101313250B | 申请公布日期 | 2011.06.29 |
申请号 | CN200680043778.4 | 申请日期 | 2006.11.07 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | M·P·丘德齐克;J·F·小谢泊德 |
分类号 | G03F7/16(2006.01)I | 主分类号 | G03F7/16(2006.01)I |
代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 王茂华 |
主权项 | 一种用于在工件上形成结构材料层的方法,包括以下步骤:在所述工件的表面上沉积沉积抑制剂材料的膜,所述沉积抑制剂材料在暴露于电子或光子时汽化;通过图案单元透射粒子束,以形成已构图的粒子束,所述粒子是电子或光子;通过暴露于所述已构图的粒子束,在所述沉积抑制剂材料的膜中形成孔的图案;选择性地在所述孔中沉积结构材料;以及通过暴露于所述粒子束,去除剩余沉积抑制剂材料。 | ||
地址 | 美国纽约 |