Method and device for at-speed storage of faults for built-in self-repair (BISR) of embedded-RAMs,申请号EP20030291208-传众专利搜索

发明名称	Method and device for at-speed storage of faults for built-in self-repair (BISR) of embedded-RAMs
摘要
申请公布号	EP1480228(B9)	申请公布日期	2011.06.29
申请号	EP20030291208	申请日期	2003.05.22
申请人	INFINEON TECHNOLOGIES AG	发明人	BORRI, SIMONE
分类号	G11C29/00;G11C29/44	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
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