| 发明名称 | 半导体装置及其探针测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种半导体设备及相关方法的各个实施例。在一个示例性的实施例中，提供一种半导体装置，可以包括：芯片；划片通道，所述划片通道位于芯片周围；以及探针测试逻辑电路，所述探针测试逻辑电路用于在芯片上执行探针测试。所述探针测试逻辑电路位于划片通道的一部分。 | ||
| 申请公布号 | CN102110659A | 申请公布日期 | 2011.06.29 |
| 申请号 | CN201010260882.7 | 申请日期 | 2010.08.24 |
| 申请人 | 海力士半导体有限公司 | 发明人 | 尹泰植;李锺天 |
| 分类号 | H01L23/00(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人 | 郭放;黄启行 |
| 主权项 | 一种半导体装置，包括：芯片；划片通道，所述划片通道位于所述芯片周围；以及探针测试逻辑电路，所述探针测试逻辑电路用于对所述芯片执行探针测试，其中，所述探针测试逻辑电路位于所述划片通道的一部分上。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||