发明名称 具有耦接至特权信息提供电路的可测试电路的电路
摘要 一种电路可操作在正常操作模式和测试模式。该电路包括耦接至可测试电路(10)的特权信息提供电路(12)。测试访问电路(19)提供对可测试电路(10)的访问。测试控制电路(18)控制测试访问电路(19)切换至测试模式。复用电路(16)在正常模式下将特权信息提供电路(12)耦接至可测试电路(10),以访问特权信息。在测试模式下,取代地将屏蔽信息提供电路(14)耦接至可测试电路(10)。
申请公布号 CN102112889A 申请公布日期 2011.06.29
申请号 CN200980130227.5 申请日期 2009.08.04
申请人 NXP股份有限公司 发明人 胡伯特斯·杰拉德斯·亨德里克斯·维梅伦;安德鲁·库恩·纽兰德
分类号 G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I 主分类号 G01R31/317(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 一种电路,可操作在正常操作模式和测试模式,该电路包括:‑可测试电路(10);‑耦接至可测试电路(10)的特权信息提供电路(12);‑耦接至可测试电路(10)的测试访问电路(19);‑耦接至测试访问电路(19)的测试控制电路(18),被配置为控制测试访问电路(19)切换至测试模式;‑屏蔽信息提供电路(14);以及‑复用电路(16),耦接在可测试电路(10)与特权信息提供电路(12)和屏蔽信息提供电路(14)之间,复用电路(16)具有耦接至测试控制电路(18)的控制输入,复用电路(16)被配置为将特权信息提供电路(12)耦接至可测试电路(10),以访问特权信息,或者取而代之地,选择性地至少响应于来自测试控制电路(18)的控制信号,将屏蔽信息提供电路(14)耦接至可测试电路(10),其中所述控制信号指示在测试模式下使测试访问电路(19)能够捕获来自可测试电路(10)的测试响应信号。
地址 荷兰艾恩德霍芬