发明名称 |
通过IC中感应的应力感测环境参数 |
摘要 |
提供了一种用于感测传感器环境的物理参数特性值的传感器。以半导体技术实现该传感器。传感器的电子电路的行为受应力的影响。该应力由覆盖电路或仅覆盖电路一部分的膜感应出。该应力由膜的材料引起,该材料的维度取决于参数的值。这种相关性不同于电路衬底与相同参数的相关性。 |
申请公布号 |
CN102112848A |
申请公布日期 |
2011.06.29 |
申请号 |
CN200980130604.5 |
申请日期 |
2009.07.30 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
罗曼诺·胡夫曼;雷默克·亨里克斯·威廉默斯·皮内伯格;尤里·维克多诺维奇·波诺马廖夫 |
分类号 |
G01D5/18(2006.01)I |
主分类号 |
G01D5/18(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
倪斌 |
主权项 |
一种包括传感器(200)的器件(200;300),所述传感器(200)用于感测对传感器的环境加以指示的物理参数的值,其中:所述传感器包括集成电子电路,该集成电子电路包括功能部件;所述传感器包括根据物理参数的值而影响电路的材料(202)中应力大小的装置;所述装置包括在结构上与电路耦合并且具有第一膨胀系数的层(204),所述第一膨胀系数具有与物理参数的第一相关性;材料的第二膨胀系数具有与物理参数的第二相关性;所述第一相关性与所述第二相关性不同;应力确定功能部件的电特性;以及电子电路可操作以产生表示所述电特性的输出信号。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |