发明名称 适用于电子标签的测试装置及其测试方法
摘要 一种电子标签测试装置,适用于卷带式电子标签结构,每个电子标签具有第一天线,包括:腔体结构,具有开槽区域;吸波材料,设置于腔体结构的内表面;第二天线,设置于腔体结构中且与开槽区域相对应设置;读取器,与第二天线连接;传动机构,与卷带式电子标签结构连接,用以带动卷带式电子标签结构转动,使单个电子标签移动至开槽区域;第二天线根据读取器驱动而传送测试信号至电子标签,电子标签将根据测试信号而经由第一天线输出反射信号,第二天线接收反射信号并传送至读取器,以使读取器判断电子标签的运行特性。所述测试装置及其测试方法可在电子标签制造过程中做快速有效的合格率辨识,更能对制作完成后的电子标签快速进行优劣判断。
申请公布号 CN101373508B 申请公布日期 2011.06.29
申请号 CN200710142397.8 申请日期 2007.08.22
申请人 资茂科技股份有限公司 发明人 刘文渊;李建斌;张耿豪;符一如
分类号 G06K7/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I 主分类号 G06K7/00(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 陈晨
主权项 一种电子标签测试装置,用于对卷带式电子标签结构的每个电子标签进行测试,其中每个电子标签具有第一天线,所述电子标签测试装置包括:腔体结构,其具有开槽区域;吸波材料,其设置于所述腔体结构的内表面上;第二天线,其设置于所述腔体结构中且与所述开槽区域相对应设置;读取器,其与所述第二天线连接;以及传动机构,其与所述卷带式电子标签结构连接,用以带动所述卷带式电子标签结构转动,以使单个所述电子标签移动至所述开槽区域;其中,所述腔体结构的垂直高度至少大于所述第一天线发射频率的半波长,所述第二天线根据所述读取器的驱动而传送测试信号至所述电子标签,而所述电子标签将根据所述测试信号而经由所述第一天线输出反射信号,所述第二天线接收所述反射信号并传送至所述读取器,以使所述读取器根据所述反射信号来判断所述电子标签的运行特性。
地址 中国台湾新竹