| 摘要 |
L'invention concerne un procédé caractérisé en ce qu'il comporte - une étape (E1) d'étalonnage d'un dispositif selon laquelle - une tête galvanométrique éclaire selon deux axes une plaque d'étalonnage d'étalonnage, située à une profondeur, pour éclairer une pluralité de points déterminés de la plaque d'étalonnage, tandis qu'une caméra observe ladite plaque d'étalonnage, une commande établissant une correspondance entre d'une part la position d'éclairage de chacun des points éclairés de la plaque d'étalonnage à la profondeur et d'autre part la position observée par la caméra des points éclairés ; la plaque d'étalonnage étant successivement positionnée à une pluralité de profondeurs pendant l'étape d'étalonnage, pour permettre une pluralité d'éclairages par la tête, d'observations par la caméra et d'établissements de correspondances par la commande ; la commande établit une relation entre les correspondances, - une étape (E2) de détermination de la forme en trois dimensions de la surface à ablater, à partir de l'étape d'étalonnage (E1), par triangulation, et - une étape (E3) d'ablation de la surface en trois dimensions, selon laquelle la commande commande la tête galvanométrique en fonction de la forme déterminée de la surface, pour focaliser et diriger, selon des axes définissant un plan et selon une profondeur, le faisceau sur la surface à ablater. L'invention concerne également un dispositif de mise en œuvre d'un procédé précité.
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