首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 A system for measuring the lattice spacing of a crystal by means of x-rays
摘要
申请公布号 GB945788(A) 申请公布日期 1964.01.08
申请号 GB19590043595 申请日期 1959.12.22
申请人 RIGAKU DENKI COMPANY LIMITED 发明人 SHIMULA YOSHIHIRO;UCHIDA KIROSHI
分类号 G01N23/207 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com