| 发明名称 | 一种芯片参数的识别方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片参数的识别方法及系统，用以识别nandflash芯片的物理参数。本发明提供的一种芯片参数的识别方法包括：从预先设置的多个时间timing参数中选择满足闪存nandflash芯片读写条件的timing参数；其中，timing参数满足nandflash芯片读写条件，是指在采用该timing参数时，对该nandflash芯片进行的读、写操作均成功；从满足nandflash芯片读写条件的timing参数中选择一个nandflash芯片工作频率最高的timing参数，作为nandflash芯片的最佳timing参数。 | ||
| 申请公布号 | CN102103890A | 申请公布日期 | 2011.06.22 |
| 申请号 | CN200910242882.1 | 申请日期 | 2009.12.18 |
| 申请人 | 无锡中星微电子有限公司 | 发明人 | 凌明 |
| 分类号 | G11C16/20(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 黄志华 |
| 主权项 | 一种芯片参数的识别方法，其特征在于，该方法包括：从预先设置的多个时间timing参数中选择满足闪存nandflash芯片读写条件的timing参数；其中，timing参数满足nandflash芯片读写条件，是指在采用该timing参数时，对该nandflash芯片进行的读、写操作均成功；从满足nandflash芯片读写条件的timing参数中选择一个nandflash芯片工作频率最高的timing参数，作为nandflash芯片的最佳timing参数。 | ||
| 地址 | 214028 江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦) | ||