发明名称 一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器
摘要 本发明涉及一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器,包括工作台、设于工作台上的轮廓仪,所述轮廓仪包括设置在工作台上的Z轴气浮立柱、设置在Z轴气浮立柱上的X轴气浮导轨、设置在X轴气浮导轨上的传感器和测针、通过导轨安装在工作台上的移动平台;所述测针与工作台的X轴平行;仪器还包括设置工作台上的三维台,三维台上设置有可夹持被测零件的夹爪;三维台的中心轴位于测针所在直线上。可在一台仪器上实现对轮廓和圆度的同时测量。
申请公布号 CN102102976A 申请公布日期 2011.06.22
申请号 CN200910219566.2 申请日期 2009.12.18
申请人 西安威而信精密仪器有限公司 发明人 戴桂秋
分类号 G01B7/28(2006.01)I 主分类号 G01B7/28(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 王少文
主权项 一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器,包括工作台(1)、设于工作台(1)上的轮廓仪,所述轮廓仪包括设置在工作台(1)上的Z轴气浮立柱(9)、设置在Z轴气浮立柱(9)上的X轴气浮导轨(2)、设置在X轴气浮导轨(2)上的传感器(8)和测针(3)、通过导轨(10)安装在工作台上的移动平台(7);所述测针(3)与工作台(1)的X轴平行;其特征在于:所述仪器还包括设置工作台(1)上的三维台(6),所述三维台(6)上设置有可夹持被测零件(4)的夹爪;所述三维台(6)的中心轴位于测针(3)所在直线上。
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