100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对引线根数100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按100线陶瓷四边引线片式载体系列、0.5节距封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖和钩组成，插座体的座、盖、钩、压块和定位板可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移，由于压块向下运动，被试器件压紧接触件，而定位板下面安装的压簧有很好的弹性，可以保证被试器件受力均匀，促使插座达到更好的压紧效果。接触件采用与被试器件引出线相对应的方式，每面三排接触件，采用中心对称安装在插座座体的四面凹槽内。插座由座、定位板和压块组成定位装置，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。

主权项

一种100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座(2)、盖(9)和钩(13)组成，用于被试器件的自动压紧，接触件(1)、接触件(3)、接触件(6)与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。