一种大尺寸晶粒取向的检测方法

摘要

本发明公开了一种大尺寸晶粒取向的检测方法，主要包括数据库的建立和储备，通过EBSD技术将晶粒颜色和晶体学数据结合，建立颜色与晶体学数据的对应关系，并记录不同金属材料、不同取向晶粒的腐蚀条件，得到待测的批量样品后，迅速检索数据库，搜索出腐蚀状态，按同样的腐蚀方式腐蚀后，在同一光源条件、同一观察视角条件下，记录晶粒的颜色，与数据库符合条件的取向对应，最终实现快速、批量的晶粒取向检测。本发明采用定量计算晶粒取向表面能和适宜的腐蚀时间，获得固定条件下观察到不同晶粒取向的特殊颜色，与扫描数据库相对应，实现大尺寸多晶体材料取向的快速、批量检测，进而实现材料性能的判断。

主权项

一种大尺寸晶粒取向的检测方法，其特征在于建立成品晶粒取向数据库，通过EBSD技术将成品晶粒颜色和晶体学数据结合，建立颜色与晶体学数据的对应关系，并记录对应成品材料的腐蚀条件；检测待测的样品时，先检索数据库，搜索出与其对应的腐蚀条件，按同样的腐蚀方式腐蚀后，在同一光源条件、同一观察视角条件下，记录晶粒的颜色，与数据库相应颜色的取向对应，得到待测样品的取向。