| 主权项 |
一种延迟电路，使所供给的输入信号延迟后输出，该延迟电路的特征在于包括：第1延迟部，使上述输入信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量延迟；第2延迟部，使经上述第1延迟部延迟后的上述输入信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量进一步延迟；以及延迟设定部，向上述第1延迟部供给延迟控制信号，使上述延迟控制信号延迟后供给至上述第2延迟部；上述延迟设定部将与上述延迟电路欲生成之延迟时间相对应的延迟控制信号供给至上述第1延迟部，且使上述延迟控制信号延迟一预定的时间后供给至上述第2延迟部；上述延迟设定部具有可变延迟元件，该可变延迟元件使上述延迟控制信号按照上述第1延迟部的延迟时间而延迟，并供给至上述第2延迟部。如申请专利范围第1项所述之延迟电路，其中上述可变延迟元件具有与上述第1延迟部大致相同的延迟特性，上述延迟设定部更包括分支部，该分支部将供给至上述第1延迟部的上述延迟控制信号进行分支，并根据所分支的上述延迟控制信号来控制上述可变延迟元件的延迟时间。一种延迟电路，使所供给的输入信号延迟后输出，该延迟电路的特征在于包括：第1延迟部，使上述输入信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量延迟；第2延迟部，使经上述第1延迟部延迟后的上述输入信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量进一步延迟；以及延迟设定部，向上述第1延迟部供给延迟控制信号，使上述延迟控制信号延迟后供给至上述第2延迟部；上述延迟设定部将与上述延迟电路欲生成之延迟时间相对应的延迟控制信号供给至上述第1延迟部，且使上述延迟控制信号延迟一预定的时间后供给至上述第2延迟部；上述延迟设定部包括：第1正反器，根据数位的上述延迟控制信号来设定上述第1延迟部的延迟时间；以及第2正反器，根据数位的上述延迟控制信号来设定上述第2延迟部的延迟时间，其中上述第1正反器对应特定的时序信号而输入上述延迟控制信号，并将所输入的上述延迟控制信号输出至上述第1延迟部，上述第2正反器对应延迟了预定时间的上述时序信号而输入上述延迟控制信号，并将所输入的上述延迟控制信号输出至上述第2延迟部。如申请专利范围第3项所述之延迟电路，其中上述第2正反器对应延迟了预定时间的上述时序信号而输入上述第1正反器所输出的上述延迟控制信号。如申请专利范围第4项所述之延迟电路，其中上述第1正反器接收输入至上述第1延迟部的上述输入信号作为上述时序信号，上述第2正反器接收输入至上述第2延迟部的上述延迟后输入信号作为上述时序信号。如申请专利范围第3项所述之延迟电路，其中上述第1正反器接收上述第1延迟部输出的上述输入信号作为上述时序信号，上述第2正反器接收上述第2延迟部输出的上述输入信号作为上述时序信号。一种抖动施加电路，对输入信号施加抖动并输出，该抖动施加电路的特征在于包括：延迟电路，使输入信号延迟后输出；以及抖动生成部，根据欲对上述输入信号施加的抖动而生成控制上述延迟电路的延迟量的延迟控制信号，其中上述延迟电路包括：第1延迟部，使上述输入信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量延迟；第2延迟部，使经上述第1延迟部延迟后的上述输入信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量进一步延迟；以及延迟设定部，向上述第1延迟部供给延迟控制信号，使上述延迟控制信号延迟后供给至上述第2延迟部。一种测试装置，测试被测试元件，该测试装置的特征在于包括：信号产生部，生成欲输入至上述被测试元件的测试信号；抖动施加电路，对上述测试信号施加抖动，并输入至上述被测试元件；以及判定部，根据上述被测试元件对应上述测试信号而输出的信号，来评价上述被测试元件，其中上述抖动施加电路包括：延迟电路，使上述测试信号延迟后输出；以及抖动生成部，根据欲施加给上述测试信号的抖动而生成控制上述延迟电路的延迟量的延迟控制信号，其中上述延迟电路包括：第1延迟部，使上述测试信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量延迟；第2延迟部，使经上述第1延迟部延迟后的上述测试信号以与所供给的延迟控制信号相对应的延迟量进一步延迟；以及延迟设定部，向上述第1延迟部供给延迟控制信号，使上述延迟控制信号延迟后供给至上述第2延迟部。 |
