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Dispositivo (1) para colocar microchips electrónicos (3) para someterlos eléctricamente a prueba con: una trayectoria de transporte (4, 5, 10) para los microchips (3), que comprende una posición de medición, y con un tope de medición (18, 35, 38), con el que puede mantenerse un microchip (3) a lo largo de la trayectoria de transporte (4, 5, 10) en la posición de medición, y con un tope previo (25, 32), con el que puede mantenerse un microchip (3) en una posición aguas arriba de la posición de medición en una posición de tope previo, y con un tope intermedio (24, 34, 37), con el que puede mantenerse un microchip (3) en una posición entre la posición de medición y la posición de tope previo, actuando el tope intermedio (24, 34, 37) en la trayectoria de transporte en una zona aguas arriba del borde dirigido aguas arriba del microchip (3) en la posición de medición, caracterizado porque aguas abajo de la posición de medición están previstos un segundo tope intermedio (37) y un segundo tope de medición (38) en una segunda posición de medición.
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