发明名称 频域光学相干层析成像系统
摘要 一种频域光学相干层析成像系统,主要包括迈克尔干涉仪系统、光谱仪系统、信号处理系统,所述的光谱仪系统包括衍射光栅、聚焦透镜、CCD光电探测器,其特点在于:在所述的CCD光电探测器前设置了CCD光谱响应度补偿片,该CCD光谱响应度补偿片是根据频域光学相干层析成像系统的宽带光源的波长范围和所述的CCD探测器的光谱响应曲线而等分为多个基元,每个基元对应于所述的CCD探测器相应的采样波段,通过改变每个基元的厚度,以离散分布的透过率对光谱响应进行补偿。本发明的补偿片可以平衡CCD器件各探测器单元对不同波长响应的不一致性,从而减小干涉功率谱中的噪音信号,使得重建的OCT图像质量得到改善,提高成像速度。
申请公布号 CN102095694A 申请公布日期 2011.06.15
申请号 CN201110001627.5 申请日期 2011.01.06
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 许鹏;何红
分类号 G01N21/27(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I 主分类号 G01N21/27(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种频域光学相干层析成像系统,主要包括迈克尔干涉仪系统、光谱仪系统、信号处理系统,所述的光谱仪系统包括衍射光栅、聚焦透镜、CCD光电探测器,其特征在于:在所述的CCD光电探测器前设置了CCD光谱响应度补偿片,该CCD光谱响应度补偿片是根据频域光学相干层析成像系统的宽带光源的波长范围和所述的CCD探测器的光谱响应曲线而等分为多个基元,每个基元对应于所述的CCD探测器相应的采样波段,通过改变每个基元的厚度,以离散分布的透过率对光谱响应进行补偿。
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