| 发明名称 | 用于修复硬核的扫描链测试结构 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于修复硬核的扫描链测试结构，其包括两个组合逻辑单元，多个寄存器和多个选择器；还包括一个异或门，所述异或门接收来自第一组合逻辑单元的信号；每个寄存器接收来自所述异或门的信号；每个选择器接收来自硬核的信号和相应的寄存器的信号，并输出至第二组合逻辑单元。本实用新型用比较少的成本开销，使得硬核的输入输出变成可观可控。 | ||
| 申请公布号 | CN201867471U | 申请公布日期 | 2011.06.15 |
| 申请号 | CN201020606548.8 | 申请日期 | 2010.11.15 |
| 申请人 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 发明人 | 王永流;林玉新 |
| 分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 一种用于修复硬核的扫描链测试结构，其包括两个组合逻辑单元，多个寄存器和多个选择器，其特征在于：还包括一个异或门，所述异或门接收来自第一组合逻辑单元的信号；每个寄存器接收来自所述异或门的信号；每个选择器接收来自硬核的信号和相应的寄存器的信号，并输出至第二组合逻辑单元。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江碧波路572弄39号 | ||