发明名称 |
激光加工装置及其加工方法 |
摘要 |
激光加工装置(1)具有:加工用光光源(3),其发出加工用光;观察用光发光部(4),其发出观察用光;光纤(19),其对在电子部件(2)上产生的多种波长的光进行导光;检测部(5),其对由光纤(19)导光的光进行检测;以及控制部(31),其对加工用光发光部(3)的发光状态进行控制。光纤(19)被分成4组,配置为包围对加工用光进行导光的光纤(18)。该被分成4组的光纤(19)形成为,可以按组将观察用光向电子部件(2)进行导光。 |
申请公布号 |
CN102099145A |
申请公布日期 |
2011.06.15 |
申请号 |
CN200980127599.2 |
申请日期 |
2009.06.18 |
申请人 |
住友电气工业株式会社 |
发明人 |
山田英一郎;井上享;中里浩二;耕田浩;畑山均;长谷川健美 |
分类号 |
B23K26/00(2006.01)I;B23K26/08(2006.01)I;A61B1/00(2006.01)I;G02B23/26(2006.01)I |
主分类号 |
B23K26/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
何立波;张天舒 |
主权项 |
一种激光加工装置,其利用加工用光对加工对象物进行扫描并加工,其特征在于,具有:第1发光部,其发出加工用光;第1导光体,其将从所述第1发光部发出的加工用光向加工对象物进行导光;第2发光部,其发出用于观察加工对象物的观察用光;多个第2导光体,其将从所述第2发光部发出的观察用光向加工对象物进行导光;第3导光体,其对在加工对象物上产生的多种波长的光进行导光;检测部,其对由所述第3导光体导光的多种波长的光进行检测;以及控制部,其基于由所述检测部检测出的结果,控制所述第1发光部的发光状态,所述第2导光体至少分成2组,且按组将从所述第2发光部发出的观察用光向加工对象物进行导光。 |
地址 |
日本大阪府 |