| 摘要 |
<p>Le domaine général de l'invention est celui des procédés de calibration des systèmes de détection de rayonnement X, lesdits systèmes comprenant au moins un générateur de rayonnement X et un ensemble de détection comprenant une matrice de pixels (10) détecteurs semi-conducteurs et une électronique de traitement et de calibration (20, 21, 22, 23). Le procédé de calibration comporte, pour tout ou partie des pixels, les différentes étapes suivantes : - Mise en fonctionnement du générateur à rayons X à sa haute tension nominale, le générateur étant disposé face au détecteur ; - Comptage, par l'électronique de traitement et de calibration, des impulsions émises par chaque pixel sous l'effet du rayonnement produit par le générateur ; - Pour chaque pixel, établissement d'une distribution en amplitude des impulsions comptées ; - Pour chaque distribution en amplitude, application d'un indicateur statistique de façon à identifier une amplitude particulière, cette amplitude particulière correspondant alors à l'énergie correspondant audit indicateur statistique ; - Ajustement, par l'électronique de traitement et de calibration, des paramètres de calibration de chaque pixel, tenant compte de la relation amplitude-énergie ainsi établie.</p> |
