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一种全自动过流保护测试系统，用于测试一待测介面的一过流保护值，该全自动过流保护测试系统包括：一介面，用于连接该待测介面；一可编程电子负载，耦接至该介面，形成一回路，用于作为该回路的负载；一控制电路，耦接至该可编程电子负载，用以控制该可编程电子负载在其负载值变化区间内变化时，从该回路中所有电流值取最大的一电流值为一过电流保护电流值；以及一显示模组，耦接至该控制电路，用于显示该过电流保护电流值。如申请专利范围第1项所述之全自动过流保护测试系统，其中，该控制电路包括一电流测试电路，其包括：一测流电阻，设置在该介面以及该可编程电子负载之间，当该回路导通时其流过一测试电流；一比较放大器，具有第一输入端、第二输入端以及输出端，第一输入端/第二输入端耦接至该测流电阻，用于当该回路导通时，通过比较该测流电阻两端的电压，获得一测试电压，该测试电压为一类比测试电压；以及一第一类比/数位转换器，其一端耦接至该比较放大器的输出端，用于将该类比测试电压转换成一数位测试电压，其中，该控制电路更包括一单片机模组，耦接至该第一类比/数位转换器以及该可编程电子负载，用于根据该数位测试电压计算出一数位测试电流，以及记录该些数位测试电流，并且控制该可编程电子负载增大或减小。如申请专利范围第2项所述之全自动过流保护测试系统，其中，该控制电路更包括一可控开关，设置在该介面以及该可编程电子负载之间，且其控制端耦接至该单片机模组，用于根据该单片机模组的一控制信号控制该回路的断开以及导通的工作状态。如申请专利范围第3项所述之全自动过流保护测试系统，其中，该控制电路更包括一第二类比/数位转换器，耦接至该介面，用于将该介面的类比电压转换成一数位电压。如申请专利范围第1项所述之全自动过流保护测试系统，其中，该介面为USB介面或者PS2介面。如申请专利范围第5项所述之全自动过流保护测试系统，其中，该USB介面为具有4pin USB介面和9pin USB介面的相容USB介面。如申请专利范围第1项所述之全自动过流保护测试系统，其中，该可编程电子负载的负载值的变化区间为从可编程电子负载上电流值为500mA的负载值至数位电压值趋于零的负载值。一种全自动过流保护测试方法，用于测试一待测介面的一过流保护值，包括：将耦接至该待测介面的一介面和一可编程电子负载形成一回路；控制该可编程电子负载在其负载值变化区间内变化；检测该可编程电子负载的负载值变化过程中该回路中的若干电流值，并从若干电流值中取最大的电流值；以及显示该最大的电流值。如申请专利范围第8项所述之全自动过流保护测试方法，该方法还包括：当该回路处于断开状态时，测量该回路的一开路电压值。如申请专利范围第8项所述之全自动过流保护测试方法，该方法还包括：当该回路处于导通状态时，调节该可编程电子负载，使该回路中的电流为一预定值，监测该回路的一测试电压值。如申请专利范围第10项所述之全自动过流保护测试方法，其中，该可编程电子负载的负载值的变化区间为从可编程电子负载上电流值为500mA的负载值至其电压值趋于零的负载值。 |
