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一种电路设计之检错方法，包含有：于设计电路的阶段：将复数个电压变数分类成复数个电压群组，其中该复数个电压群组系分别对应复数个电压准位；依照一预定排列规则来排列该复数个电压群组以产生一排列结果；依据该排列结果与一预定设计规则(design rule)来检查该复数个电压变数中是否有不符合该预定设计规则之电压变数。如申请专利范围第1项所述之检错方法，其中该复数个电压变数系分别对应于该电路设计中复数个掺杂区，且每一电压变数所关联之电压准位系供应予一相对应掺杂区。如申请专利范围第2项所述之检错方法，其中依照该预定排列规则来排列该复数个电压群组之步骤系依照电压大小排列该复数个电压准位来产生该排列结果；该方法另包含有：依照该排列结果将复数个有序指标分别设定予该复数个电压群组；以及检查该复数个电压变数之步骤包含有：依据该复数个有序指标与该预定设计规则来检查该复数个电压变数中是否有不符合该预定设计规则之电压变数。如申请专利范围第3项所述之检错方法，其中依据该复数个有序指标与该预定设计规则来检查该复数个电压变数之步骤包含有：自该复数个电压变数中选择一第一电压变数，其中该第一电压变数所对应之一第一掺杂区系属于一第一导电型掺杂区；自该复数个电压变数中选择一第二电压变数，其中该第二电压变数所对应之一第二掺杂区系属于一第二导电型掺杂区，并且该第二掺杂区相邻于该第一掺杂区；以及根据该第一电压变数及该第二电压变数所关联之一第一有序指标及一第二有序指标来检查该第一电压变数及该第二电压变数是否符合该设计规则。如申请专利范围第4项所述之检错方法，其中该复数个有序指标之先后次序系相同于该复数个电压群组于该排列结果中电压由大到小之电压顺序；该第一掺杂区系为一P型掺杂区；该第二掺杂区系为一N型掺杂区；以及检查该第一电压变数及该第二电压变数是否符合该设计规则之步骤包含有：当该第一有序指标之次序先于该第二有序指标之次序时，判断该第一电压变数及该第二电压变数系不符合该设计规则。如申请专利范围第4项所述之检错方法，其中该复数个有序指标之先后次序系相同于该复数个电压群组于该排列结果中电压由小到大之电压顺序；该第一掺杂区系为一P型掺杂区；该第二掺杂区系为一N型掺杂区；以及检查该第一电压变数及该第二电压变数是否符合该设计规则之步骤包含有：当该第二有序指标之次序先于该第一有序指标之次序时，判断该第一电压变数及该第二电压变数系不符合该设计规则。 |
