牙科金属修复体评价用像质计

摘要

本发明涉及一种牙科金属修复体评价用像质计。尤其适用于具有精确的金属板厚度，可以直接在X射线照相底片上反映被测对象厚度的、用于评价牙科金属修复体厚度和内部质量的像质计。借助牙科像质计不仅可以通过不同阶梯灰度的圆孔反应出X射线照相底片的灵敏度，同时，可以通过像质计不同阶梯灰度的圆孔处的光密度与牙科金属修复体上缺陷处的光密度进行比较，根据像质计上光密度与像质计底板厚度的对应关系，得出缺陷处的厚度。牙科像质计的最重要特点是，在X射线照相底片上，像质计和牙科金属修复体在相同颜色的基底背景下进行比较，可以避免由于背景颜色不同，造成的观测误差。

主权项

牙科金属修复体评价用像质计由上下两部分组成：上部(1)的上表面(2)为平面，下表面(3)为阶梯形，每个阶梯的高度相差0.1mm。每个阶梯上可以打不同尺寸的通孔(5)，孔的数量、直径、位置不限。下部(4)可以是不同厚度、不同成分的金属薄板。所述每片金属薄板的厚度相差0.1mm。各薄板的长度与像质计上部的宽度相同，所有薄板宽度之和与像质计的总体长度相同。