| 发明名称 | 一种干扰源定位系统中定位参考点的确定方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种干扰源定位系统中定位参考点的确定方法及装置，用于提高确定干扰源位置的准确度以及效率。主要技术方案包括：确定设定数目个参考点集合；并确定所述每个参考点集合中各参考点分别对应的第一特征值以及第二特征值，其中，所述第一特征值为在对应参考点上各干扰源的波达角度的均值；所述第二特征值为在对应参考点上用于估计干扰源来波方向的线型天线阵列法线反方向的方位角；根据所述每个参考点集合中各参考点分别对应的第一特征值以及第二特征值，确定包括用于参与干扰源定位的定位参考点的参考点集合。根据该技术方案，提高了确定干扰源位置的效率以及准确度。 | ||
| 申请公布号 | CN102083103A | 申请公布日期 | 2011.06.01 |
| 申请号 | CN200910238590.0 | 申请日期 | 2009.11.27 |
| 申请人 | 中国移动通信集团北京有限公司;北京邮电大学 | 发明人 | 吴晓梅;全庆一;王波;王文博;田俊刚;李勇;郭同文;胡欲晓;李欣然 |
| 分类号 | H04W24/02(2009.01)I;H04W64/00(2009.01)I | 主分类号 | H04W24/02(2009.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 郭润湘 |
| 主权项 | 一种干扰源定位系统中定位参考点的确定方法，其特征在于，包括：确定设定数目个参考点集合；并确定所述每个参考点集合中各参考点分别对应的第一特征值以及第二特征值，其中，所述第一特征值为在对应参考点上各干扰源的波达角度的均值；所述第二特征值为在对应参考点上用于估计干扰源来波方向的线型天线阵列法线反方向的方位角；根据所述每个参考点集合中各参考点分别对应的第一特征值以及第二特征值，确定包括用于参与干扰源定位的定位参考点的参考点集合。 | ||
| 地址 | 100007 北京市东城区东直门南大街7号 | ||