一种质谱质量测量误差的预测方法

摘要

本发明公开了一种质谱质量测量误差的预测方法，包括如下步骤：步骤一，将物质的测量误差分解为系统误差与随机误差；步骤二，在质谱中计算样本点的测量误差，样本点包括质谱中的离子、离子之和或者离子之差；步骤三，使随机误差的目标函数取最值来确定系统误差分布函数的参数取值。所述在质谱中计算样本点的测量误差是通过预测离子分子式的方法获得。本发明的优点是：不需要额外的内标或外标参考，不需要进行预先的鉴定；既可以预测单个质谱的误差情况，也可以预测整个样品的所有质谱的误差分布情况；预测准确度高。

主权项

一种质谱质量测量误差的预测方法，包括如下步骤：步骤1)设置含有待定参数的测量系统误差分布函数；步骤2)计算物质的测量质量值和理论质量值，并计算这些物质的测量实际误差；其中，在计算物质的测量质量值和理论质量值时，采取的方式包括：(1)在质谱中选择谱峰，计算谱峰对应的离子的测量质量值，通过预测谱峰对应离子的分子式得到离子的理论质量值；或(2)得到一对谱峰所对应的两个离子的质量之差或者质量之和的测量质量值及理论质量值；步骤3)得到的物质测量实际误差减去所述的含参数的测量系统误差，得到物质的含参数的测量随机误差；步骤4)计算所述含参数的测量随机误差的目标函数，通过使该目标函数取得最值而得到所述测量系统误差分布函数中待定参数的取值。