发明名称 跑道形NLDMOS晶体管及其制作方法
摘要 本发明提供一种提高跑道形NLDMOS晶体管及其制作方法,采用圆环形结构在N型漂移区形成P型同心环,通过调整P型同心环的半径控制P型杂质总量,从而与N型杂质达到电荷平衡,提高跑道形器件结构弯道部分耐压的方式。传统方式是在弯道部分形成简单的PN结,PN结的反向耐压即为器件弯道部分的耐压,这种方式虽然简单,但却使弯道部分不存在沟道,从而浪费了芯片面积。采用该发明不仅可以在跑道形器件结构的弯道部分提高耐压,而且可以在弯道部分保留沟道,使器件电流变大,达到有效利用芯片面积,增大电流,降低导通电阻的目的。
申请公布号 CN102082173A 申请公布日期 2011.06.01
申请号 CN200910188535.5 申请日期 2009.12.01
申请人 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 发明人 吴孝嘉;罗泽煌;韩广涛
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 何平
主权项 一种跑道形NLDMOS晶体管,包括直道部分和弯道部分,其特征在于:所述弯道部分包括弯道N型漂移区及与所述弯道N型漂移区相邻设置的弯道P型条。
地址 214000 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区汉江路5号
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