| 发明名称 |
Method of measuring the electrical properties of a semiconductor crystal, viz. the specific resistance and the life span of the charge carriers of a highohmic crystal |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
US3206674(A) |
申请公布日期 |
1965.09.14 |
| 申请号 |
US19600057796 |
申请日期 |
1960.09.22 |
| 申请人 |
TELEFUNKEN AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
THUY JOACHIM;KRAUSS HERMANN |
| 分类号 |
G01N22/00;G01R31/26;G01R31/265 |
主分类号 |
G01N22/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
