| 发明名称 | 半导体性能测试架 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及半导体生产技术领域的工具，特别是一种半导体性能测试架。其包括测试架本体，其特征是：所述的测试架本体有一个底座，底座上有一个立杆，立杆上具有一个伸出结构，伸出结构上连接有上接触盘，在底座上还有一个和上接触盘对应的下接触盘。进一步的讲，所述的下接触盘上还具有一个半导体加热件。这样的半导体性能测试架具有使用方便，测试效率高的优点。 | ||
| 申请公布号 | CN201852858U | 申请公布日期 | 2011.06.01 |
| 申请号 | CN201020578497.2 | 申请日期 | 2010.10.27 |
| 申请人 | 河南久大电子电器有限公司 | 发明人 | 张志辉;宋暖;欧阳进民 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I;F16M11/20(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 半导体性能测试架，包括测试架本体，其特征是：所述的测试架本体有一个底座，底座上有一个立杆，立杆上具有一个伸出结构，伸出结构上连接有上接触盘，在底座上还有一个和上接触盘对应的下接触盘。 | ||
| 地址 | 461500 河南省长葛市机场路北段久大电子 | ||