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发明名称 TEM Probe
摘要
申请公布号 EP1505383(B1) 申请公布日期 2011.06.01
申请号 EP20040014079 申请日期 2004.06.16
申请人 LEICA MIKROSYSTEME GMBH 发明人 GRUENEWALD, WOLFGANG;VOGT, ALEX
分类号 G01N1/32;G01N23/04;G01N1/28 主分类号 G01N1/32
代理机构 代理人
主权项
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