| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Messeinrichtung für die absolute Positionserfassung, bestehend aus einer Sensoreinheit (N, M) als planare Spulenstruktur und einem Maßstab mit entlang der Messtrecke abwechselnden Bereichen von variabler Reluktanz oder Leitfähigkeit. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung für die Bestimmung der Absolutlage innerhalb der Messlänge mindestens zwei aperiodisch, bitweise codierte, parallel verlaufende Teilungen (T1, T2), die für jede Bitbildung entgegengesetzte Auswirkungen auf ein Spulenelement (S2, S3, S4) als Teil der gesamten Sensorstruktur hat, aufweist. Bevorzugt ist, dass jedes Spulenelement (S2, S3, S4), bestehend aus eigenen Emitter- und Receiverwicklungen (E, R) in Offset balanciert ist und die gesamte Sensorstruktur durch Kompensationswicklungen annähernd gleiche Signalamplituden für jedes einzelne Bit des Absolutwertes an jeder beliebigen Position des codierten Maßstabs liefert.</p> |
