发明名称 |
以ICP-MS法测定高纯砷中杂质元素的制样方法 |
摘要 |
以ICP-MS法测定高纯砷中杂质元素的制样方法,涉及物质分析技术领域,将高纯砷放入特制的容器,在一定温度下通氧形成三氧化二砷升华除去砷,而蒸汽压低的杂质元素残留在容器内,残留溶液经电子级硝酸消解,再用稀硝酸定容。本发明可完全消除基体元素砷的干扰。以ICP-MS法制样的检测数据与GD-MS检测数据比较,具有精密度好、准确度高、实用可行的特点。 |
申请公布号 |
CN102072833A |
申请公布日期 |
2011.05.25 |
申请号 |
CN201010593568.0 |
申请日期 |
2010.12.17 |
申请人 |
扬州高能新材料有限公司 |
发明人 |
李显坪;王继荣;陈琦;杨华琴;何卫卫 |
分类号 |
G01N1/28(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 |
扬州市锦江专利事务所 32106 |
代理人 |
江平 |
主权项 |
以ICP‑MS法测定高纯砷中杂质元素的制样方法,其特征在于称取高纯砷,取得质量m高纯砷,将称取的高纯砷全部置于石英坩埚中,再把石英坩埚放入石英管内,在300~350℃条件下,向石英管通入氧气,待高纯砷氧化生成氧化砷升华去除后,使石英管降至常温,取出石英管内留下残留物的石英坩埚,在石英坩埚中加入电子级的硝酸,于150℃的加热板上加热至完全消解后,再向坩埚内加入质量百分比浓度为不大于10%的稀硝酸溶液定容,取得定容的总体积V。 |
地址 |
225123 江苏省扬州市维扬区甘泉双塘工业园花庄路 |