发明名称 |
微小型智能电子测试仪 |
摘要 |
本发明公开的微小型智能电子测试仪属微小型电子测试仪器技术领域,该测试仪采用SoC技术由单片电路芯片集成,并由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成,根据不同测试的目的或测试需求,以及测试环境、条件的不断变化的需求,通过虚拟面板的软件编程可设置为不同的恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式的多功能微小型智能电子测试仪,它能置于被测体内并跟随被测体一起运动,完成测试并记录结果,它还具有低功耗的电源分配式供电管理功能,该微小型智能电子测试仪设计先进、结构微小、功能多样、设置完善,它代表着存储式测试仪向微小型化、智能化的发展方向,值得采用和推广。 |
申请公布号 |
CN101561298B |
申请公布日期 |
2011.05.25 |
申请号 |
CN200910074322.X |
申请日期 |
2009.05.06 |
申请人 |
中北大学 |
发明人 |
马铁华;靳鸿;祖静;尤文斌;张红艳;裴东兴;肖胜武;巩林萍 |
分类号 |
G01D21/00(2006.01)I;G01D21/02(2006.01)I;F41A31/00(2006.01)I;G01P15/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01D21/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 |
代理人 |
傅权;马秦锁 |
主权项 |
一种微小型智能电子测试仪,特征在于:所述的微小型智能电子测试仪系采用SoC技术由单片电路芯片集成,测试仪由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成;a.所述的微小型智能电子测试仪采用SoC技术将其智能电子测试机构及其电路集成在单片电路芯片上构成能置于被测体内的、其中包括构成能跟随被测体一起运动的携带式微小型智能电子测试仪;b.所述的智能电子测试仪经过虚拟面板的软件编程设置为不同测试模式的智能电子测试仪,所述的不同测试模式选择有:恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式;所述的智能电子测试仪的级联测试模式结构是:根据选择的级联模式,通过测试仪的专用接口多个SoC单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪;所述的智能电子测试仪的级联测试模式详细结构是:根据被测参数需求相应选择不同工作模式的级联结构,这些不同工作模式的级联结构选择有:信息采集速率扩展、测试通道与测试参数的扩展、存储容量的扩展需要的单种至三种的混合选择组合构成的多级联扩展结构。 |
地址 |
030051 山西省太原市尖草坪区学院路3号 |