一种D-SUB端子的测试插座改进结构

摘要

本实用新型涉及电子测试装置，尤其涉及对显示器进行测试用的D-SUB端子的测试插座的改进。本实用新型的D-SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机的信号线连接的一测试插座。其中改进之处在于：所述的测试插座的两侧均设有垂直的引导杆。进一步的，所述的引导杆的直径与D-SUB端子的支撑杆通孔的直径相当。本实用新型采用如下技术方案，克服了已有技术中存在的不足，可以保障D-SUB端子插入测试插座时的角度为垂直，减少D-SUB端子及信号线的磨损，延长使用寿命，并且保证插入后二者稳固性，从而保证测试的可靠性。

主权项

一种D SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机(3)的信号线(23)连接的一测试插座(2)，其特征在于：所述的测试插座(2)的两侧均设有垂直的引导杆(22)。