发明名称 一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法
摘要 一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法,包括以下步骤:(1)采用非线性分段方式对测量值所在的区域进行分段;(2)在每个分段后的线性区进行测量值校准,即将多次A/D采样值累加后右移n次,计算得到校准后的参数测量值,校准系数S用两个字节来保存,高字节定义为SH,低字节定义为SL,其中:S=SH×256+SL;(3)依照标准仪表的标准测量值,通过调整所述校准系数S对参数测量值进行精确的校准。本发明提升无乘法指令单片机的处理能力,避免采用浮点数乘除法操作、高效便捷。
申请公布号 CN101706295B 申请公布日期 2011.05.25
申请号 CN200910154593.6 申请日期 2009.11.13
申请人 浙江工业大学 发明人 单晓杭;孙建辉;张利;丁力
分类号 G01D18/00(2006.01)I 主分类号 G01D18/00(2006.01)I
代理机构 杭州天正专利事务所有限公司 33201 代理人 王兵;王利强
主权项 一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法,包括以下步骤:(1)、采用非线性分段方式对测量值所在的区域进行分段;(2)、在每个分段后的线性区进行测量值校准,即将多次AD采样值累加后右移n次,参照下式,计算得到校准后的参数测量值: <mrow> <mi>Y</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>S</mi> </munderover> <mi>X</mi> </mrow> <msup> <mn>2</mn> <mi>n</mi> </msup> </mfrac> <mo>+</mo> <mi>b</mi> </mrow>其中:Y:参数测量值;X:为A/D采样值;S:校准系数,即连续采样的次数;n:A/D分辨率,即A/D位数;b:零位误差校准值;所述的校准系数S用两个字节来保存,高字节定义为SH,低字节定义为SL,其中:S=SH×256+SL数据转换过程分为两步:第一步:连续采样256次,计算累加和,然后将采样累加和再通过循环相加实现累加和乘以SH;第二步:连续采样SL次,并计算累加和;(3)、依照标准仪表测得的标准测量值,通过调整所述校准系数S对参数测量值进行精确的校准。
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